数码式膜厚仪「SWT-NEO」系列

第2次, 测量/仪器

数码式膜厚仪「SWT-NEO」系列

数码式膜厚仪「SWT-NEO」系列

该数码式膜厚仪能够在不破坏膜的情况下测量皮膜的厚度。 拥有厚度0.1μm的显示分辨率,不需要根据噪声和位移的影响进行修正,因此在处理数据、使用便捷度上有优势,占据日本市场份额首位。

 
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